Pestañas

lunes, 27 de abril de 2015

Technart 2015

Hoy ha comenzado en Catania (Italia) la conferencia internacional TECHNART 2015. El objetivo de esta conferencia es el proporcionar un forum científico para presentar y promover el uso de técnicas analíticas espectroscópicas en el campo del Patrimonio Cultural. 


La conferencia se cimenta en las ediciones previas de TECHNART de Lisboa, Atenas, Berlín y Amsterdam, ofreciendo una oportunidad única para compartir conocimiento acerca de las últimas novedades en el desarrollo de estas técnicas. Los estudios en Patrimonio Cultural comprenden un amplio abanico: pigmentos, piedra, metal, vidrio, cerámicas, resinas, fibras, quimiometría en estudios de obras de arte, aplicaciones forenses en historia del arte, arqueología y ciencias de la conservación.

La temática de las conferencias será la siguiente:
  • Microanálisis por rayos X (DRX, FRX, SEM-EDX y PIXE).
  • Microscopía confocal de rayos X (Micro-FRX  3D, Micro-PIXE 3D).
  • Sincrotrón, técnicas e instrumentcación basadas en rayos iónicos y de neutrones.
  • Microscopías FT-IR y Raman.
  • Fluorescencia y absorción/reflectancia UV-Vis y NIR.
  • Técnicas analíticas basadas en láser.
  • Técnicas de resonancia magnética.
  • Cromatografía (GC y HPLC) y espectrometría de masas.
  • Técnicas opticas 
  • Espectrometría móvil y detección remota.

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