Hoy ha comenzado en Catania (Italia) la conferencia internacional TECHNART 2015. El objetivo de esta conferencia es el proporcionar un forum científico para presentar y promover el uso de técnicas analíticas espectroscópicas en el campo del Patrimonio Cultural.
La conferencia se cimenta en las ediciones previas de TECHNART de Lisboa, Atenas, Berlín y Amsterdam, ofreciendo una oportunidad única para compartir conocimiento acerca de las últimas novedades en el desarrollo de estas técnicas. Los estudios en Patrimonio Cultural comprenden un amplio abanico: pigmentos, piedra, metal, vidrio, cerámicas, resinas, fibras, quimiometría en estudios de obras de arte, aplicaciones forenses en historia del arte, arqueología y ciencias de la conservación.
La temática de las conferencias será la siguiente:
- Microanálisis por rayos X (DRX, FRX, SEM-EDX y PIXE).
- Microscopía confocal de rayos X (Micro-FRX 3D, Micro-PIXE 3D).
- Sincrotrón, técnicas e instrumentcación basadas en rayos iónicos y de neutrones.
- Microscopías FT-IR y Raman.
- Fluorescencia y absorción/reflectancia UV-Vis y NIR.
- Técnicas analíticas basadas en láser.
- Técnicas de resonancia magnética.
- Cromatografía (GC y HPLC) y espectrometría de masas.
- Técnicas opticas
- Espectrometría móvil y detección remota.
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